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理学 ZSX Primus III+波长色散型X射线荧光光谱仪
ZSX Primus III+波长色散型X射线荧光光谱仪X射线管位于分析样品上方,减少了真空室内飘散粉末损坏光管的风险,并且无需在进行粉末样品分析时使用粘合剂,使样品制备更快捷简便。可在慢速和快速
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理学 ZSX Primus波长色散型X射线荧光光谱仪
ZSX Primus波长色散型X射线荧光光谱仪ZSX Primus沿袭了及时提供精确结果的传统,无与伦比的可靠性,灵活性和简便性适合当今实验室的各种挑战。随着理学的经验不断超越用户的期望,ZSX
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理学 ZSX Primus IV波长色散型X射线荧光光谱仪
ZSX Primus IV波长色散型X射线荧光光谱仪ZSX Primus IV 采用上照射设计,不用担心污染光路,清理麻烦和增加清理时间等问题。 具有双真空系统,自动真空控制,mapping/微区分
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理学X射线荧光光谱仪+ZSX Primus III
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理学 ZSX Primus III+ 扫描型X射线荧光光谱仪
X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线,它包含了被分析样品化学组成的信息,通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。Rigaku ZSX Primus
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日本理学ZSX Primus III+ X射线荧光光谱仪
ZSX Primus III+ X射线荧光光谱仪 X射线管位于分析样品上方,zei大程度减少了真空室内飘散粉末损坏光管的风险,并且无需在进行粉末样品分析时使用粘合剂,使样品制备更快捷简便。 可在
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XRF-1800型波长色散型X射线荧光光谱仪
荧光分析的应用领域,作为具有革命性的仪器而得到了很高评价,业已销售200余台。 扫描型X射线荧光光谱仪 XRF-1800型从仪器的硬件与软件在许多细节都进行了改进,使得仪器的可靠性与
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理学 ZSX Primus III+ 波长色散型X射线荧光光谱仪 软磁材料分析
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理学 ZSX Primus III+ X射线荧光光谱仪 钡钛摩尔比分析
比检测,其检测精度都在千分之一以下,能满足企业对高质量的钛酸钡粉体中Ba/Ti摩尔比控制要求。理学公司的X射线荧光光谱仪扫描道ZSX Primus III+对钛酸钡粉末质量管理,其钛钡比标准偏差(摩尔
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理学 ZSX Primus 多道型波长色散型X射线荧光光谱仪
分析范围: Be - U较小的占地面积微区分析下照设计30 μm超薄窗Mapping: 元素分布He 密封:样品室一直在真空环境中ZSX PrimusRigaku ZSX Primus以各种各样的
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